Velox 3.4.5 新版亮点 – FormFactor 探针台控制软件
发布日期:
2025-12-31

在晶圆级测试中,自动化或数据处理的微小改进也能对良率和生产效率产生重大影响。对测试工程师和实验室管理者而言,软件往往是无名的功臣——它将精密硬件、计量工具与数据系统融合贯通,构建出无缝衔接的高性能作业环境。

FormFactor的Velox™探针台软件平台长期扮演着这一角色。它作为我们探针台的控制中枢,在确保测量结果一致性与可重复性的同时,大幅简化从器件设置到测试执行的全流程。随着Velox 3.4.5版本的发布,我们通过增强清洁功能、智能自动化升级以及更强大的脚本配置,将系统集成度提升至全新高度,助力客户优化工作流程,强化实验室与晶圆厂之间的协同效能。

Velox 3.4.5版本带来一系列以用户需求为核心的升级,旨在使晶圆测试操作更加快捷简便。工程师将直接体验到设备设置时间、测量精度、结果可重复性以及日常工作效率的显著提升。

Velox 3.4.5 新版亮点 – FormFactor 探针台控制软件

以下是本次更新的亮点功能:

• 先进的探针清洁功能——新增对角线清洁、优化清洁与探针擦洗三种模式,在保持探针尖端完整性的同时,显著提升清洁垫利用效率。

Velox 3.4.5 新版亮点 – FormFactor 探针台控制软件

• 升级版工作流程向导——采用现代化界面设计,新增快速启动工作流,可简化设备设置、标准化测试流程,并支持人员培训与快速上手。

Velox 3.4.5 新版亮点 – FormFactor 探针台控制软件

Velox 3.4.5 新版亮点 – FormFactor 探针台控制软件

• 改进型电动探针座设置——增加南北向布局配置,使控制中心与初始化对话框中的探针座选择及可视化操作更加直观。

Velox 3.4.5 新版亮点 – FormFactor 探针台控制软件

• 扩展自动化辅助系统——自动化射频辅助现支持南北向探针配置,实现真正的24/7无人值守校准与测量;全新推出的自动化高功率测量辅助功能,可自动执行大电流与高压测试,确保稳健的无人化操作。

Velox 3.4.5 新版亮点 – FormFactor 探针台控制软件

• 增强型脚本与Python功能——预置常用软件包,打造更直观的编程流程。

Velox 3.4.5 新版亮点 – FormFactor 探针台控制软件

这些升级功能共同提升了系统的易用性与可重复性,同时最大程度减少人工操作——助力测试团队以更少的中断开展更快速、更稳定的实验。

• 更智能的对准与可视化功能

针对需要绝对精度的应用场景,Velox 3.4.5通过增强对准功能的升级,优化了整体对准体验。

Velox 3.4.5 新版亮点 – FormFactor 探针台控制软件

新增的南北向探针视觉定位标记,使射频、毫米波和太赫兹探针的定位操作更加便捷——即使在局部失焦条件下仍能快速识别,从而实现更快速的校准与更精准、可重复的接触效果。

扩展的脚本与数据分析功能

新版本通过采用基于CPython的Python 3架构,显著增强了Velox的脚本处理能力。

该脚本环境预装了NumPy、SciPy、Matplotlib、Pandas及Scikit-rf等科学计算库,使工程师能够实现高级任务自动化、执行深度数据分析,并与外部系统无缝集成。

Velox 3.4.5还内置了VSCodium——一款提供Python等多语言语法高亮与调试工具的开源开发环境,为用户打造开箱即用的高级自动化与定制开发平台。

为精度、性能与灵活性而生

随着器件尺寸持续微缩、架构日趋复杂,半导体测试年复一年面临更严峻的挑战。Velox 3.4.5的研发初衷,正是为了助力工程师从容应对这些难题——通过更智能的自动化功能和更精细的数据捕捉能力,确保任何信号与参数无所遗漏。

当与FormFactor业界领先的探针卡和晶圆探针台配合使用时,Velox将实现:

• 在先进制程(3纳米及以下)中实现更快速的设置与测试

• 获得更高的测试周期内的数据可重复性与置信度

• 为芯粒架构与三维集成提供可扩展的工作流程

从人工智能加速器、高带宽内存到车规级芯片,这些改进直接转化为更高的良品率、更短的测试周期以及更低的单晶圆测试成本。

Velox的每项新功能都源于客户反馈的千锤百炼。3.4.5版本正是我们从全球各地晶圆厂和实验室工程师那里汲取智慧的结晶——这些日复一日依靠我们系统不断挑战半导体性能极限的实践者,正是驱动我们持续创新的源泉。

这种深度协作正是推动平台持续前进的核心动力。随着行业日益深入芯粒架构、AI驱动工作负载与先进封装的浪潮,我们始终致力于提供同步演进软件解决方案,持续输送工程师保持领先地位所需的精度、一致性与速度。

随着半导体技术的持续演进,Velox始终是精密晶圆测试的软件基石,确保每次探针定位、每个接触瞬间、每项数据采集,都能转化为更高的产品良率与更快的创新周期。


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