硅光在片测量
硅光在片测量
硅光在片测量
硅光在片测量
硅光在片测量

硅光子学融合了集成电路和光通信两种技术,这两种技术沿着平行但独立的路径发展。基于激光的光通信在长距离上产生非常高的带宽和低损耗的信号传输。FormFactor的精密探针台CM300SiPh,配套Keysight仪表(光波元器件分析仪/光源/偏振控制器/光功率计等)很好地说明了如何在新技术大规模生产之前,就参与解决晶圆测试的挑战。

和创科技提供全套的硅光系统集成方案,提供全球领先的测试仪表和探针台,同时支持为您定制化的集成测试软件,保障测试的精确。我们有客制化界面:基于完整的底层驱动和测试逻辑库,根据用户要求和使用习惯定制软件页面;开放式测试工程参数:测试工程关键参数均可独立设定,提供最大的测试自由度。同时支持全自动测量,易用的GUI,及测试结果二次处理。

  • 产品特点
  • 主要参数

lKeysight仪表可提供直流、射频测试环境,硅光仪表包含光波元器件分析仪/光源/偏振控制器/光功率计等等,达成各类测试需求。

l可调谐激光源与光通信应用软件套件配合使用,可以执行插入损耗、偏振相关损耗和色散等光谱测量。 它能与多端口功率计和 偏振合成器结合使用,为测量滤波器阻带和通带提供更佳的波长扫描准确度和出色的动态量程。

lFormFactor最新的CM300全自动探针台是行业领先的,以满足针对5G及以上应用的5,3和2nm技术节点的新测试能力。新的CM300现在实现了前所未有的测量性能,并在晶圆上、低频闪烁、RTN和相位噪声测试领域实现了四项重要的行业第一。

l全自动硅光测量软件SiPh tools,光纤校准/包含自动对光。配合机台控制软件Velox实现全自动硅光测试。

和创科技提供系统集成软件,联动控制探针台和仪表,更好地完成自动化测试。


测量参数:光栅/光波导插损,光谱;

PD&LD,IV,CV,LIV,I-λ,响应度;

激光器/探测器/调制器带宽;

眼图&误码率;

半波电压,终端电阻

光源波长:1240-1380 nm 或 1340-1495 nm 或 1450-1650 nm 或 1490-1640 nm

绝对波长准确度:±5 pm(静态)、±10 pm(扫描)典型值。

CM300SiPh:12寸全自动硅光探针台,支持12寸/8寸/6寸及其他尺寸晶圆测试。

通过消除以往探针台中97%以上的环境噪声,系统为超低噪声测量建立了新的行业标准。


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