随着半导体器件不断向更高频率和更紧密集成度发展，晶圆级测试也必须同步革新。从事6G技术、高速互连、采用先进调制方案的数字高带宽通信系统以及下一代无线系统研发的工程师们，需要在以往难以企及的高频范围内实现精确、高效且可重复的测试性能。

正因如此，FormFactor公司隆重推出InfinityXF™探针——这款新型同轴晶圆探针可在单次扫描中实现从直流到250GHz的宽带性能测试。

InfinityXF探针基于成熟的Infinity平台构建，将带宽扩展至250GHz，无需使用多个频率扩展模块或执行复杂的校准步骤。该探针与是德科技 (Keysight Technologies) 联合开发，可与PNA-X测试系统和新型250GHz同轴频率扩展模块无缝协作，并采用坚固耐用的0.5毫米同轴连接器。

这种方案能简化晶圆测试流程，避免同轴与波导探针混用的情况，并大幅减少设置时间。最终实现：更快的测量速度、稳定的可重复性以及更低的S参数测量不确定度。

InfinityXF探针的核心特性包括：

• 单次扫描范围高达250GHz，且具有无与伦比的精度

• 灵活配置——提供GSG、GSGSG和GSSG等多种拓扑结构，支持50µm至150µm的间距（首批支持50/75/100µm，更多规格持续更新）

• 超紧凑设计——可直接对接是德科技NA5307A测试仪，在保持优异回波损耗的同时降低插入损耗

• 清晰探针针尖可视性——实现更精准一致的探针定位，节省设置时间并减少误差

• 耐用铑金探针针尖——提供稳定低阻接触，专为长期使用设计

• 宽温工作范围——在-40°C至+175°C环境下可靠工作，兼容FormFactor EMI屏蔽TopHat腔体及开放式IceShield™超温测试环境

• 自动化就绪——可与FormFactor自动射频测量助手协同工作，实现24小时无人值守自动校准测试

InfinityXF探针设计适用于多种应用场景，包括：

• 宽带建模与器件特性分析

• 高速数字通信测试（如PAM4 448Gb调制及PCIe Gen6标准）

• 负载牵引与噪声特性测试

• 多千兆比特（Multi-Gbps）系统及TIA（跨阻放大器）测试

• 谐波与频谱纯度测量

该探针与EVOLVITY™ 300、CM300xi和SUMMIT200探针系统完全兼容，为研发与生产应用提供灵活解决方案。

通过将同轴单次扫描宽带探测能力扩展至250GHz，InfinityXF为工程师提供了突破先进设计极限所需的精确度与可靠性。无论是验证下一代无线系统，还是确保超高速数字链路的信号完整性，InfinityXF都能助您以更高效率和更大信心完成测试任务。