单端TDR差分插入损耗法（Single-Ended TDR to Differential Insertion Loss，简称SET2DIL）是Intel最早开发的传输线损耗测试方法，也是IPC规定的损耗测试方法之一，该方法将差分对末端短接，使用两端口的TDR仪器简化测量，利用单端线路测量差分损耗。

整个系统由矢量网络分析仪，SET2DIL探头，测试软件（PC）组成。SET2DIL方法的典型测量频率范围为2 GHz ~ 12 GHz，优势是校准件结构简单，校准耗时也大幅度降低，非常适合用于PCB制造的批量测试。