功率探针台
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新型TESLA200专为晶圆级IGBT/功率MOSFET(GaN,SiC,Si)器件测量而设计。该系统经过精心设计,可提供高达3kV(三轴)/10kV(同轴)和200A(标准)/600A(大电流)测量的准确数据。具有下一代测量功能,包括防电弧设计,自动测量以及对工程探针和量产探卡的支持。Tesla200可以全自动完成薄片/翘曲片/Taiko片在完整温度范围(-55℃只300℃)内的测量。一套系统可以满足从研发到量产的所有晶圆级功率测试需求。

TESLA200还支持新的应用,可用于具有挑战性的高功率测量,例如静态静态HV测试(高达400°C时低漏电),以及动态功率测试(例如UIS),使用新的超低残留电容和电感的高低温载物台和常温载物台。

新型TESLA200具有半自动和全自动模型,具有可扩展性和现场升级性,可以满足任何预算要求。该系统是在单个或大量晶片上尽快收集高精度测量数据的理想选择,可用于研发,器件表征/建模或量产应用。

Tesla200植入AttoGuard® and MicroChamber®专利技术,明显提升了低漏电和小电容的测试能力。与FormFactor FemtoGuard™ 高低温载物台技术相结合,Tesla200可以提供超低噪声,完全保护和屏蔽的测试环境。再结合MicroVac™技术,保证低接触阻抗,薄片测量。

为了确保在高压测量过程中的最大安全性,TESLA200晶圆上功率半导体探测系统采用了TUV认证的安全互锁系统,并集成了符合人体工程学的透明外壳。 TESLA200具有先进的200毫米快速工作台,自动晶圆装载器和薄晶圆处理能力,可为科学家,研发/测试工程师或生产操作员提供快速完成工作所需的一切。

  • 产品特点
  • 主要参数

l高电压/电流探针:高达 10,000 V DC / 600 A 的晶圆上功率器件特性分析,减少了探针和器件在高达 20 A DC 电流和 300 A 脉冲电流下遭受毁坏的情况,增高了隔离电阻和介电强度,以在高电压 (3,000 V) 条件下提供完整的三轴能力,从而完成低漏电测量。

l高压防电弧探针卡:晶圆上功率器件的特性高达10,000 V DC,安全便捷的集成套件,可支持TIPS高压防电弧探针卡。

l镀金的 TESLA 高功率 MicroVac™ 载物台:可防止薄晶圆片发生卷曲和折断,高级MicroVac卡盘晶圆和卡盘之间的最小接触表面,在高电流条件下可提供准确的 Rds(on) 测量,在高温条件下能完成准确的 UIS 测量。

l操作安全:具有透明外壳的安全联锁系统,用于保证器件测量期间操作人员的安全,100%可拉出式载物台保证简单、安全的上下片操作。

l无缝集成:提供了使用方便的连接套件,用于与来自 Keysight Technologies 和主要供应商的功率器件分析仪实现简单和安全的系统集成,Velox 与分析仪/测量软件之间的无缝集成。

l高低温测试:ATT可靠、优异性能温控系统,只加热或-60℃到300℃全温度范围灵活选择,与其他系统相比,CDA消耗降低25%(300L/min),温度迁移效率不受影响,温度迁移效率比市场上其他系统快15%,MicroVacTM和FemtoGuradTM专利技术,提供超低的测量噪声和可控的漏电流,低残余电容确保重复先进测量的精度和速度,随着用户需求的变化做现场升级。

lVelox 探针台控制软件:以用户为中心的设计最大程度地减少了培训成本并提高了效率,Windows 10兼容性可通过最先进的硬件实现最高性能和安全操作,全面的对齐功能–从简单的晶圆对齐和对位到先进的自动化半导体测量,实现变温条件下自动探针与pad对准,为经验不足的用户简化操作流程:工作流程指南和精简的用户图形界面帮助降低培训成本,自动上片装置集成–简单创建工作流程和程序,无需额外的软件,VeloxPro选件:符合SEMI E95的测试执行软件,可简化操作和整个晶圆测试周期的安全自动测量。


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